公开号：	US2007148665A1
大类：	国外
行业类型：	化学
行业内分类：	微生物装置
专利名：	自动检测基片上样品点的方法
摘要：	为了金属纳米粒子成像提供了一种器具和方法。本发明提供了一个器具及胶体金颗粒的检测方法和准确的报告给检测器。该装置包括一个基板的基片，处理器和内存设备，成像模块，照明模块，电源模块，输入模块和输出模块。该仪器可能有一个固定的衬底架和成像模块，是彼此接近的。该仪器提供了一款结构紧凑的系统，无需复杂的机动设备的需求来移动穿过基板相机。此外，设备和方法提供的点/井在基板上的自动检测，自动定量基体上的点，并基于统计对点的自动判读。