公开号：	US2007139069A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测试液晶元件的方法和仪器
摘要：	该测试方法用于液晶显示板，在其中像素提供液晶元件，密封在液晶材料中，被安置在一个基质内对立电极之间。该方法由以下几个过程组成：一个充电过程，该过程为上面提到的被测像素的液晶元件充电；一个测量过程，该过程从上述提到的液晶元件中放电并且测量放电量；一个判断过程，该过程根据测量结果判定在上述提到的被测像素的液晶元件中是否存在缺陷。