公开号：	US2008100820A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	采用结构光密度的测距传感器
摘要：	一个采用结构光线密度确定位移测量的测距传感器。一个微透镜阵列或衍射光学元件，从光源输入光，输出明暗相间的光条纹。通过使用分散光条纹，系统对位置变化的响应近似反比于从反射面到分散光条纹源的距离。采用双探测器方法，用来消除关于光源的光功率变化以及其他潜在变化对测量灵敏度的影响。