公开号：	US2008101534A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	X射线探测方法及仪器
摘要：	本方法包括一个X射线探测器，执行X射线焦斑偏转使来自两个不同通道射线产生两个完整的投影。其中，这些通道除了通道不同外在某些方面上也是有目的地区分它们。