| 摘要： | 本逻辑集成电路包含一个预先设定的逻辑功能的逻辑电路，一个读/写存储电路，一个测试存储器电路中是否存在无效位的测试电路和一个可以锁存上述逻辑电路和存储器电路的触发器构成的边界锁存电路，其也可以作为一个移位寄存器。另外，逻辑集成电路在与测试电路一起执行测试期间为存储测试结果到边界锁存电路也提供了一个失效释放信息产生电路并产生一个基于存储的测试结果的存储器电路失效信息的失效释放信息。安装在逻辑集成电路的测试电路可以与内置的存储器电路测试同时产生一个释放的失效位信息，其叶可以输出相同的信息到外围设备并减轻芯片内部的RAM负担。 |