公开号：	US2007168145A1
大类：	国外
行业类型：	化学
行业内分类：	酶或微生物的测定或检验方法及相关疾病预防、治疗
专利名：	校准传感器或测量系统
摘要：	本发明是关于一个在间质中调整传感器，连续传感器或连续自动测量系统的方法，包括在使用传感器，连续传感器或连续测量系统之前调整测量曲线的陡度和标准偏差（标准轴截距）的步骤间质，和在应用过程中使用标准刻度或尺度的零点校准措施调整这种偏差。本发明包括根据这种方法对传感器，连续传感器或连续自动测量系统进行校准或调整，在某些实施例中，使用前的偏移调整是根据由这种传感器，或连续测量传感器就标准陡度测定的值与参考值之间的差别。