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今天是:2025-06-13 Friday
企业难题需求
公开号: US2007153281A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:测量
专利名:用于测量薄板性能的分光镜传感器
摘要:发明了一种用于测量薄板性能的分光镜传感器。该传感器使用分光计和单通道探测器和滤波器的组合,与照明宽带源一起以最优测量平板产品的各种性能。分光计被用于在一个光谱范围内测量,在该范围内需要一套简单结构的波长通道,并且信噪比和通道的光谱分辨率是与光谱范围和分光计的像素数一致的。当一个或更多单通道探测器和过滤器组合被用于测量时,在分光计的光谱范围之内或之外的特殊波长下有高的信噪比。所以,通过提供单波长测量,无论是在可见、近红外或中间红外区域,单通道探测器能被用于补充由分光计提供的信息,或扩大分光计的工作范围。
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