公开号：	US2006115205A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	通过光纤测量熔融物的温度的方法和校准
摘要：	本发明提出了一种基于光纤的校准测量，一种已知基准温度的参考物质安放在光纤的一端，然后对加热参考物质至少达到其基准温度，当达到基准温度后就会从光纤的另一端接收到信号，将此作为设备的校准信号并与在此温度下的理论值比较，两者之差就可以校准设备。另外，基于以上理论使用光纤的校准或测量设备也已经实现。