公开号：	US2007164771A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测试芯片的仪器及其制作和使用方法
摘要：	发明了一种在目标电子应用中测试集成电路的仪器和方法，其中，该仪器包括一个用来接收集成电路的插口；一个修正过的商业电子产品，其塑造了目标电子应用；以及一个在插口和电子商业产品之间的电子连接。该测试集成电路的方法包括，在一个插口内配置一个集成电路，该插口与电路板充分连接，该电路板包括集成电路，并且测试集成电路。制作这样一个测试器，该测试器将插口与一个被修正的电子商业产品连接在一起，并且电子的连接了一个集成电路和电子商业产品。这种方法能够更便宜、更广泛、更正确的测试一个集成电路。