| 摘要： | 本发明提供了一种只使用一个测试管脚使用一个输入/输出脚而不需要其他任何测试管脚就可以测试半导体设备的方法和装置。此半导体设备包括一个供输入/输出数据的测试管脚，一个对外部复位信号和时钟信号响应的使能信号控制的工作模式，一个存储通过测试管脚接收到的与时钟信号同步的响应使能信号的串行数据的工作模式，一个对响应存储在工作模式存储器中串行数据而产生的工作模式选择信号解码的工作模式。另外一个半导体设备包括一个输入/输出管脚以接收测试数据、延时复位信号发生器产生的延时复位信号，一个响应复位信号对时钟信号计数产生一个计数值的计数器，一个存储测试数据的模式存储器和一个给模式寄存器产生选择信号以指定测试数据在模式寄存器中写的位置的解码器。 |