公开号：	US2006188399A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	一种现场使用的自分析传感器系统
摘要：	本专利提供了一种包含传感表面的压电晶体的压电自分析传感系统。压电晶体被一个对与晶体表面传感相互作用的分析敏感的基振频率所驱动。机械中与晶体连通的晶体谐振器以基振频率驱动晶体。使用一个电路测量晶体的振荡频率并将此振荡频率与压电晶体表面的传感信号一起做定量分析。也提供了一个与电路通信的接口模块以连接电气设备并从电气设备中引出电源以供使用。