公开号：	US2008027565A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	分配加工单位产生模拟衍射光学测量使用的信号
摘要：	在分配的计算机系统的处理单元上来产生模拟衍射光学测量，工作中需要许多处理单元来产生衍射使用的模拟信号。为工作要求加工单位数目，然后确定产生衍射模拟信号。一个可用的处理单元数量确定。当处理请求的单位数量比可得到的处理单元大时，处理单元的数目更大的分配产生衍射的比处理单元数量少的模拟信号。