公开号：	US2006178570A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	被分析物的一种无创测定方法和装置
摘要：	本发明提供了一种精确无创的测定组织属性的方法和装置。本装置包含一个光学采样器，其包括一个照明子系统，以将含有第一偏振光的光送到组织表面；包含一个采集子系统，其可以采集到从与组织相互作用后发送回来的第二偏振光；第一偏振光和第二偏振光不同。偏振光的不同可以阻止采集从阻止表面镜面反射的光并可以优先采集在组织里有理想穿透深度或者光程分布的相互作用的光。不同的偏振光也可以在带有角度的线性偏振光之间或者不同手性的椭圆偏振光之间选择。