公开号：	US2007176599A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	磁场测量方法和磁场测量系统
摘要：	在每个小于圈尺寸的扫描间距s内测量磁场强度，通过扫描圈尺寸的一个磁场传感器（环形天线）。磁场强度分配通过沿扫描方向的间距s的空间分辨率决定。通过执行算术处理，包括加法和减法，与每个被测磁场强度值有关。将注意到，磁场传感器可能是一个带有许多位于间距s的磁场传感器的磁场传感器阵列。