公开号：	US2006179958A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	旋转体动态量测设备和系统
摘要：	包含一个由轴向与特定晶体方向相连接的杂质扩散层构成的惠斯通电桥电路的单晶半导体与一个动态旋转体相连接。本旋转体动态量测设备和系统使用的测量装置是扛疲劳和腐蚀的，因为使用了单晶半导体并且由于电桥电路考虑了单晶的各向异性从而不易被温度变化所影响。