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公开号: US2006187467A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:测量
专利名: 光学相位分布的测量方法
摘要: 本发明提供了一种光学相位分布测量的一种方法,使用此种方法,不使用其它任何特别的测量设备就可以从光强分布中高速、高精确地确认光学相位分布。其包括以下步骤:为使光学系统能测量到输入光,要分别的调制光强和相位,检测CCD测得的输出光,测量检测到的光的强度分布作为含有两个不同光学系统的光学相位分布测量系统的图像;建立基于光强分布和光学系统光学特征的观测方程;从观测方程中设置一个相位分布识别的逆问题,并将相位分布识别逆问题的设置阐述为一个非线性最优化问题,在此复数幅值表示被检测到的光被假定为一个设计变量;将上述非线性最优化问题转化为另一个非线性最优化问题,此时级数展开中的展开系数也被假定为设计的变量,用此级数展开就可以测得光的相位分布。解决了第二个非线性最优化问题就可以测得光的相位分布情况。
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