公开号：	US7359130B1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	透镜支架和校准方法
摘要：	本专利涉及了一个改进了的透镜支架和相关的校准方法。在本专利中，透镜支架包括一个环状元件和连接着它的基础元件。基础元件有一个底面，地面上有共面的第一和第二安装垫片。在另一个例子中，校准透镜支架的方法与提供包括一个环状元件和连接着它的基础元件的透镜支架的平台有关。平台有一个顶面。基础元件底面上的校准元件与平台上的孔径相对应。校准元件被插入孔径中，基础元件底面上的第一，第二和第三安装垫片与平台的顶面相接触。