公开号：	US2006182220A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	一种使用X射线漫反射的高效测量方法
摘要：	本方法适用于检测的样品有一个表面层。本方法包括在用X射线准直光束照射样品时采集样品的一个反射光谱，并处理所得到的反射光谱以测量样品的漫反射性质。用X射线汇聚光束照射样品时采集样品的另一个反射光束。对比漫反射性质分析第二个反射光束就可以分析出样品表面层的特性。