公开号：	US2007284531A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	辐射检测和成像的系统和方法
摘要：	辐射检测和成像的系统和方法，一个较好的应用包括一个包括电子电路的基体用于探测一个转导信号，在其上面分布有一个中级导电层并且电学连接到电子电路。一个热阻系数高的较低分离层使得中级导电层与电子电路部分分开。这个的较好系统同样包括一个在中级导电层上面的顶端层，在顶端层上面是吸收层，吸收层与中级导电层电气连接。吸收层产生一个成比例于入射到吸收层上的辐射数量的转导信号。立式加工的辐射传感器允许具有良好填充因子的传感器阵列，使得创建的传感器阵列在保持较低成本的情况下具有高的分辨率。