公开号：	US2008003665A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	检测粒子的方法和系统
摘要：	探测放置在探测区的粒子的系统。这个系统包括一个用于产生光的光发射源。所发出的光直射微粒。这个系统更包括一个调制器用于在至少一个微粒的环境参数下的原位调节来改变粒子可探测到的响应。这个调制器在干涉的微粒和种类面前会提高探测微粒的选择性。而且，这个系统包括一个探测器用于探测微粒的可探测性的响应的变化。