公开号：	US2008074130A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测试导电凸点的仪器和方法
摘要：	提供导电凸点测试仪器和测试方法。示范实例中，凸点测试装置含有一个支座，它的表面引出两只探针。数字探测设备嵌入到支座，该设备由第一个输入端，第二个输入端和一个输出端组成，其中输入端与探针电气连接。