公开号：	US2008144028A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	荧光仪
摘要：	本专利发明了用于样品分析的荧光仪，该荧光仪由一个主光束路径和至少1个光学模块组成。荧光仪具体表现为提供至少一束电磁光束激发样品和接收至少一束由样品发出的电磁光束，当一些部件位于主光束路径时至少有两束电磁光束位于同一平面上。