公开号：	US2008144021A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测试发光二极管的系统和方法
摘要：	本专利设计一种测试发光二极管的系统。该系统由一个或多个喷嘴，一个探针，一个探测器组成。在系统中当施加电流时，被操作的发光二极管发射光线。一个或多个喷嘴直接向发光二极管喷射冷却液。探针给发光二极管供电。探测器检测发光二极管响应电流时发出的光线。