公开号：	US2008144049A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	物体热像无损测评的方法和仪器
摘要：	介绍了一种检测物体缺陷的非破坏性测评系统和方法。该系统包括一个以光脉冲冲击物体的照明灯和一个焦平面阵列摄像机，能捕捉物体在光脉冲作用下的放热图像。该系统还包括一个用于捕获焦平面阵列摄像机图像数据的图像采集系统。在示范性实例中采用了传输模式成像和反射模式成像两种成像技术。也提供了一种飞行时间分析系统，分析传输模式成像技术和反射模式成像技术的数据。从传播方式成像得到的数据，用来确定数据中不同点的厚度值和使用厚度值确定缺陷位置。从反射模式成像得到的数据用来确定这些缺陷的深度。