公开号：	US2008155850A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	薄板材料起伏测量的仪器与方法
摘要：	一种测量和定量描述薄板材料例如纸张的起伏的设备和方法。该设备具体上包括一个平坦光滑水平的上表面，用于支持一叠薄板的基座，一个盘状的质量块放置在一叠薄板上，一个用于测量质量块确定的基准表面与基座确定的基准表面之间垂直距离的测量设备。被测距离表征着一叠薄板的高度。在一个较好的实例中，该设备还包括一个可编程的的处理器，可基于测量的一叠薄板的实际高度H和一个计算出的理想高度计算得到“起伏率”，如起伏率=H/(n*t)，这里n是薄板材料的个数，t是薄板材料的平均高度。