公开号：	US2008158559A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	荧光检测设备
摘要：	本发明涉及一种荧光检测设备，该设备包括支持一个样本（111）的一种支持方法（101），一种样本样本激励方法使样本（111）发射荧光，一种用于探测上述荧光的探测方法，之前提到的支持手段包括一个粗糙的表面层用于向多元化方向散射荧光，探测手段覆盖一个锥形的观测区域，以便收集多方向散射的荧光。