公开号：	US2006207339A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	力学量测量仪
摘要：	本文提出一种力学量测量设备用于测量某种特殊用途的长寿命，高精度和可靠性的仪器在发生形变后产生的逆形变的力。在半导体基质上放置了一块张力传感器。杂质扩散层的半导体单晶晶体在基板上形成了一个惠斯登电桥电路。当半导体单晶晶体产生各向异性压阻效应后在基板上的惠斯通电桥电路就会开始工作。