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企业难题需求
公开号: US2008211492A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:测量
专利名:磁阻抗测量装置
摘要:采用替代的低频磁场可以测试对象阻抗分布特征,并测量由此产生的感应电流。本发明涉及一种磁阻抗测量装置,它包括一个应用线圈,用于产生频率可变的交流磁场,一个电源,至少有一个磁性传感器的检测手段,其中包括一对磁性传感器来检测磁场的正交组件,矢量组件平行于线圈的表面,还有一个测量手段来测量被测信号,测量方式放置在距离线圈一定距离处,面向测试对象,一个锁相放大器电路测量测量手段输出的检测信号,该信号具有与应用线圈相同的频率,还有一个分析方式,用于分析磁性传感器方式和锁相放大电路输出的信号的强度和相位的变化。
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