公开号：	US2008217525A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	质谱和质量光谱仪
摘要：	在空间产生磁场梯度，微粒在该空间向下运动，由磁场梯度产生的电磁力作用到微粒子上。然后，测量微粒由磁力作用产生的速度和加速度，从而基于测量速度和微粒电磁敏感性测量微粒的质量。