公开号：	US7280190B1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	电光时域反射计
摘要：	披露了一种联系在一起的且/或具有元件能够在微电子封装中隔离缺陷的装置，方法和系统。在不同的体现，缺陷隔离装置可能包括一光电模块将光学测试信号转化成电学测试信号同时提供该电学测试信号给测设备；电光探针包括一电光晶体使光学取样信号极化通过应用从测试设备反射到电光晶体的电学测试信号；输出模块配置为接收极化的光学取样信号，同时生成一至少部分基于极化的光学取样信号的时间函数的电学输出信号，电学输出信号适应更方便的隔离测试设备存在的缺陷。