公开号：	US7323870B2
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	磁敏感元件以及使用晶片测试功能安装磁场敏感元件
摘要：	晶片测试功能的实现方法是通过安装在晶片上的多个磁场探头实现的。每个敏感元件包括一个磁场敏感结构和电流导体结构。电流导体结构针对测试信号产生测试磁场，那么磁场敏感结构的电气特性就会发生变化并被感知。然后磁场敏感元件根据电气特性的变化进行评估。