公开号：	US7352194B1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	探测复合物材料上涂层厚度的方法
摘要：	本发明通过应用放置在一种导电材料上的复合物质及其涂层的感应电流来探测复合物质涂层的厚度。这个循环的电流是由于交替的磁场产生的，随后执行基于剥落反应测量的间接测量，这个涂层连同这种复合材料依靠所提到的导电材料提供感应电流。