公开号：	US7352477B2
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	二维位置探测设备
摘要：	一个二维位置探测设备包括一个可移动构件它相对于一个静止的构件平行移动；一个光源和一个二维的位置传感器分别固定在一个静止的构件和其他的可移动构件，这个二维的位置传感器接收光源发出的光来探测二维位置传感器上的光接收表面的一个光接收点；定位于光源和二维位置传感器的之间的衰减透射光学系统用于转换二维位置传感器的光接收表面的光源发出的光。