公开号：	US7365533B2
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	用于角位移、线性位移和表面变形评估的磁-光遥感器
摘要：	本文介绍测量角位移，线性位移和/或表面形变的仪器及方法。这是基于线性偏振光与磁性材料相互作用能力的方法，并且会根据法拉第效应改变光的偏振角度。系统的基础结构包括两畴结构的磁光（MO）薄膜和由倾斜磁场产生的单畴壁，倾斜磁场是由两个相反极性的磁体放置在薄膜附近产生的。交流磁场垂直作用域MO薄膜，引起MO内的磁场以相同的频率振动，这就输出已调AC信号，通过测量这个信号的时间变化，就可以得到旋转角度、线性度和/或表面形变的信息。