公开号：	US2006115205A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	通过光学纤维的熔体的校准和温度测量
摘要：	通过光学纤维获得的校准测量信号的提供方法，这里谈到的原料有众所周知的参考温度，它被安排在光学纤维的末端，参考原物质被加热到至少是参考温度，当这个参考温度达到检测信号标准来测量设备时，这个信号通过纤维被接收，并且它与参考温度的理论值进行比较，检测被用在不同点上。另外，相关设备用上面的方法来测量或者计算光学纤维的衰减。