公开号：	US2006123879A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	校准半导体测试仪器的方法
摘要：	本发明所述的校准半导体测试仪器的方法可以降低成本，简化工作以及缩短工作时间。驱动器和相应的比较器是一对一通信的。时钟信号和脉冲信号具有一对一的同步性。他们各自的相位是参考其他信号的相位而调整的。他们各自的相位差是确定的。他们的相位是根据相应的相位差而调整的。