公开号：	US2006250504A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	二维位置检测装置
摘要：	本发明中的二维位置检测装置包括一个可以平行移动到固定构件的活动构件、一个光源和一个二维位置探测器，二维位置探测器的探测参数分别与固定构件和活动构件相匹配。探测器接收光源发出的光，在探测器的光接收面上探测到一个光接收点；位于光源和探测器之间的减少投影光学系统用于在二维位置探测器的光接收面上聚集光源发出的光。