公开号：	US2006123910A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测量物体质量的仪器及方法
摘要：	测量物体质量的仪器包括具有薄膜层的传感器，薄膜层用来接收待测物质，用于驱动薄膜层以参考共振频率振荡的振荡设备，频率检测器用来检测放上待测物体后引起薄膜层共振频率的变化量，该变化量就可以反应物体的质量。