公开号：	US2006291768A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	光学
专利名：	基于折射率压力感应短周期变化的光纤传感器
摘要：	一种用来测量温度和/或压力地光纤传感器使用临时刻制的长周期光栅。这种光栅可以通过沿光纤纵轴在光纤折射率上改变周期来制作，这种周期改变是由空间周期上的压缩和/或扩展力或者导致光纤周期微弯的空间间隔的不平衡力造成的。压力和温度由测量光从芯层导模耦合到另一种模式时的波长及其耦合来决定。这种光栅内外均刻划。单模和多模光纤都可以使用。