公开号：	US2006215157A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	偏振的测量方法及装置
摘要：	提供一种用非线性偏正方法测量一个光学信号E场的高次时刻。方法包括在接收到的光学信号的第一偏振上加一个相对于光学信号第二偏正的相位延迟，以产生一个随时间变化的偏正的中间光学信号。中间光学信号的偏正被抑制。使用光电子探测器探测中间光学信号，至少一个光电子探测器对于一个非线性光学过程敏感。计算光电子探测器输出的光谱，以决定E场的高次时刻，并且将时刻转换以得到偏正测量值。