公开号：	US2006212236A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测试电路的设备和方法
摘要：	这种测试电路的方法和设备不需要周密的电路仿真，但能可靠地判别电路的缺陷。优选实例产生一个缺陷信号，表明电路的所给出的状态会在电路中发生，该状态是由一个电路状态变量决定的。一般，电子器件都分别被视作关于一对相连的器件短路或者断路。一个电气状态变量始终被分配给至少一个网点或者一个电路连接引脚。被视作短路的器件网点和连接引脚的电气状态变量被分配到每一个网点和连接引脚。至少基于分配的状态变量做出一个关于是否所给出的电路状态会发生的评估。