公开号：	US2006125508A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	基于伪天线信号的RFID标签电路的晶片测试
摘要：	RFID标签电路包括两条信号路径进入内部的解调器。第一条信号路径把解调器耦合到RFID标签电路的天线端口。第二条信号路径吧解调器耦合到当RFID标签电路开始晶片测试测试后伪天线信号第一次在RFID电路出现的地方。