| 摘要： | 该方法和装置用于测量诸如固体、流体、气体或者薄膜等材料的折射率、双折射率和光旋性等。该方法和装置可以同样用于测量反射表面的特性。所展示的装置具有一个光学谐振器，可以是光纤回路谐振器、跑马谐振器、或者任何波导鸣响或者带有闭合光路的其他结构构成的箱体。样品被引入谐振器的光路中，以使得谐振器中的光通过样品传播，并且观察谐振器频率的相对或绝对移动，或者传播光谱的特性变化。共振特性的传输特性的变化，例如共振频率的改变，和样品的折射率以及其变化有关。在测量双折射的时候，使用具有两种类似正交（线性或者周期性）偏振状态模式的鸣响，观察共振频率的相关变化。反射表面可能被引入共振器。反射表面可以为了高度压型表面特征进行光栅扫描。表面等离子振体可能被激励，并且由于将分析物和反射面结合使得共振光产生的相位改变可以在频率域中确定。 |