公开号：	US2006125509A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	动态适应半导体参数测试
摘要：	仪器，方法系统和信号承载媒介可能会有多种图谱，包括被称为基于统计阈值或其他选择标准的在运行时间之上的多种探测序列。每种图谱都包括一系列圆片上的位置，在每个位置上执行的测试，以及每次测试的结果。参数测试系统在晶片上的相关位置进行测试。如果达到统计阈值或选定的标准，当前的图谱A就会被遗弃，换成一个不同的图谱。