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2025-06-09 Monday
企业难题需求
公开号:
US2006210018A1
大类:
国外
行业类型:
仪器
行业内分类:
测量
专利名:
X射线成像的定量分析方法及设备
摘要:
该发明是关于X射线成像的网络使能分析。同时描述了包含影像标定的设备;使用这些设备的方法;制定包含了有关X射线成像信息的数据库的方法;数据库本身;以及操作信息和数据库的方法。
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