公开号：	US2006232261A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	基板元件的检验设备及其使用方法
摘要：	发明了一种通过检测制造过程中像素点的缺陷的降低发光设备制造成本的过程。通过使用检测设备检测具有薄膜晶体管的基板元件的像素以及具有薄膜晶体管的完外围电路，在发光设备制造完成前检测制造过程中的缺陷。这样就可能减少有缺陷的产物进入最后加工工序而产生的损失，并且可以通过修复工序中的有缺陷产品的修正来提高产品质量。