公开号：	US2006232691A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	图像信号处理器和像素缺陷检测方法
摘要：	一种指定缺陷类型的缺陷检测电路通过对比目标像素与其周围像素的图像信号来检测指定的像素缺陷，并且通过位置存储电路来存储指定缺陷像素的地址信息。缺陷检测电路根据存储电路所存储地址信息多次检测有缺陷的像素，从而确定缺陷像素的连续测定结果。缺陷寄存器电路存储在位置存储电路中存储测定的地址信息。缺陷校正电路根据存储的地址信息校正缺陷像素的图像信号。