公开号：	US2006232767A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	光电探测器入射光波长测定的方法
摘要：	介绍了一种光波长测定的光电探测器系统以及测量方法。入射光在测量时，光电探测器中会产生相应的电流。入射光终止后，测定光电探测器的电流衰减。入射光的波长大小取决与电流、电流的衰减以及在电流和电流衰减与波长和时间之间的确定的函数关系。在一个具体设备中，电流衰减被认为是一个可查的，因此可确定一个相匹配的电流衰减量，波长就可以根据这个相匹配的电流衰减量来确定。