公开号：	US2006236178A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	RAM的测试装置和方法
摘要：	在RAM测试中，故障检测是适用于指明的地址和指明的期望值而不是一般的地址和期望值，所以当指明的地址和指明的期望值发生错误时，可以很容易地把它们分辨出来。此外，由于指明的地址被设置成一个预定范围的地址范围而不是一个单一的地址，当相关地址范围在检测后发生错误，检测的总共次数可以通过对地址范围内发生错误的位置进行筛选测试来进行控制。