公开号：	US2006238210A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	接口及使用该接口测试半导体的装置
摘要：	接口有一个测头，并且有一个连接到测头的探针板。该接口包括一个接口体、一个接口体提供的同轴电缆连接盒、一个接口体提供的压紧机构用来从同轴电缆连接盒插座分离的方向压紧探针板，还有一个探针板提供的用来连接的同轴电缆连接盒插头。